2023年 1月 17日

西安电子科技大学2023研究生考试大纲 851物理光学与应用光学

作者 gong2022

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西安电子科技大学851物理光学与应用光学2023年硕士研究生招生考试大纲已出,为帮助考生明确考试复习范围和有关要求,特制定出本考试大纲。本考试大纲适用于报考西安电子科技大学2023考研学子,一起关注。

851 物理光学与应用光学 考试大纲

(研招考试主要考察考生分析问题与解决问题的能力,大纲所列内容为考生需掌握的基本内容,仅供复习参考使用,考试范围不限于此)

一、考试总体要求与考试要点

1.考试总体要求

要求学生熟练掌握物理光学和应用光学方面的基础理论、基本概念和基础知识;并具备运用所学理论解决基本实际光学问题的能力。要求学生能从光的电磁理论出发,掌握光在传播过程中所发生的各种现象的规律及其应用。

2.考试范围

考试内容包括:光的电磁理论基础,光的干涉,光的衍射,光在各向异性介质中的传播特性,晶体的感应双折射,光的吸收、色散和散射,几何光学基础,理想光学系统,光学系统像差基础和光路计算,光学仪器的基本原理。

3.考试要点

(一)光的电磁理论基础

1.光波的特性:光波场的数学表示,光波的能量,光波的速度。

2.光波的特性:光波场的时域、空域频谱。

3.光波的特性:光波场的横波性、偏振态及其表示。

4.光波在界面上的反射和折射:反射定律和折射定律,菲涅耳公式。

5.光波在界面上的反射和折射:反射率和透射率,反射和折射的相位、偏振特性,全反射特性。

(二)光的干涉

1.产生干涉的基本条件。

2.双光束干涉:分波面法双光束干涉(杨氏双缝,菲涅耳双棱镜,菲涅耳双面镜和洛埃镜)。

3.双光束干涉:分振幅法双光束干涉(平行平板产生的等倾干涉,楔形平板产生的等厚干涉,牛顿环)。

4.平行平板的多光束干涉。

5.光学薄膜特性及其处理方法:单层膜,多层膜,多层高反射膜。

6.典型的干涉仪和干涉滤光片的工作原理和应用。

7.光的相干性。

(三)光的衍射

1.光衍射的基本理论:惠更斯-菲涅尔原理,基尔霍夫衍射理论,基尔霍夫衍射公式的近似—菲涅尔近似和夫朗和费近似。

2.夫朗和费衍射:矩形孔衍射,圆孔衍射,单缝衍射,多缝衍射,巴俾涅原理。

3.光学成像系统的分辨本领:瑞利判据,各种光学成像系统的分辨本领。

4.菲涅耳衍射:圆孔和圆屏的菲涅尔衍射,菲涅耳直边衍射,菲涅尔波带分析法,振幅矢量加法。

5.衍射的应用:光栅,波带片,小孔、细线直径测量,狭缝测量等。

(四)光在各向异性介质中的传播特性

1.晶体的光学各向异性。

2.理想单色平面光波在晶体中的传播—光波在晶体中传播特性的解析法描述:单色平面光波在晶体中的传播特性,光波在晶体中传播特性的描述,光在几类特殊晶体中的传播规律。

3.理想单色平面光波在晶体中的传播—光波在晶体中传播特性的几何法描述:折射率椭球、折射率曲面、波矢曲面以及菲涅耳椭球和射线曲面。

4.光波在晶体界面上的反射和折射:双折射和双反射;确定光在晶体界面上的反射和折射方向,包括惠更斯作图法和斯涅耳作图法。

5.晶体光学元件:偏振棱镜,偏振片,波片和补偿器。

6.晶体的偏光干涉:平行光的偏光干涉和会聚光的偏光干涉。

(五)晶体的感应双折射

1.电光效应—晶体的线性电光效应:线性电光系数,几种晶体的线性电光效应;晶体的二次电光效应的基本概念。

2.晶体的线性电光效应的应用—电光调制和电光偏转。

3.声光效应(喇曼-乃斯衍射、布喇格衍射)及应用

4.晶体的旋光效应和法拉第效应。

(六)光的吸收、色散和散射

1.光与介质相互作用的经典理论。

2.光的吸收、光的色散和光的散射。

(七)几何光学基础

1.几何光学的基本概念。

2.基本定律,包括光的直线传播定律、反射、折射定律和费马原理等的内容和应用。

3.基本光学元件的成像规律和特点,包括球面反射镜,折射球面镜,平面镜,薄透镜,折射平面,反射棱镜等。

(八)理想光学系统

1.理想光学系统及其基点和基面的概念。

2.理想光学系统的作图法。

3.理想光学系统成像分析及计算,高斯公式,牛顿公式,垂轴放大率、轴向放大率和角放大率。

4.光组基点、基面的确定,包括双光组组合、截距法、正切法。

(九)光学系统像差基础和光路计算

1.光阑的概念、分类;孔径光阑和视场光阑的确定及相关的概念。

2.光学系统的渐晕、景深和焦深的概念及其对成像的影响。

3.光学系统成像的像差及其分类;各种像差的概念及其对成像质量的影响。

4.共轴球面光学系统子午面内光路的计算及其基本像差分析。

(十)光学仪器基本原理

1.眼睛的结构、成像的调节能力和分辨率;眼睛的缺陷和纠正。

2.放大镜、显微镜和望远镜的结构、成像特点以及视角放大率和分辨率。

3.光学系统成像分析和计算。

4.基本成像光学系统的设计。

二、考试形式

1.考试时间:180 分钟。

2.试卷分值:150 分。

3.考试方式:闭卷考试。

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